技術的範囲を正しく捉えるクレーム解釈法(公開セミナー)

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日本アイアール株式会社 主催

2017年2月2日(木)開催

近年の判例も踏まえ、侵害・非侵害を分けるポイントを明快解説

技術的範囲を正しく捉えるクレーム解釈法

この研修は日本弁士理会の継続研修として認定を申請中です。
この講座を受講し、所定の申請をすると、外部研修機関として2.5単位が認められる予定です。

新たな研究開発や商品開発を行う際には、特許権侵害の有無を調査することが重要です。

しかし、注意すべき他社特許が発見されたとしても、自社の実施行為が特許権侵害となるか否かの判断が難しい微妙なケースもあるかと思います。

 

特許発明の保護範囲を判断するためには、実際の侵害訴訟において特許請求の範囲(クレーム)がどのように解釈されたかを正しく理解しておくことが不可欠です。

 

このセミナーでは、特許侵害訴訟について豊富な実務経験を有する講師が、近年の判例における考え方の説明も交えつつ、「侵害」と「非侵害」を分けるポイントをわかり易く解説します。

 

知財担当者として「技術的範囲」を正しく判断するために必要な前提知識を、短時間で効率良く整理したい方は、是非この機会をご活用ください。

このセミナーを受講するメリット
    • 侵害・非侵害の判断に不可欠な「クレーム解釈」の正しい知識と考え方を習得できます。
    • 近年の特許侵害訴訟における判例の中から、知財担当者がおさえておくべき重要ポイントを集中的に学ぶことができます。

「技術的範囲を正しく捉えるクレーム解釈法」講座内容(予定)

1.
はじめに 最近の知財の動向
2.
「事実上の発明」と「法律上の発明」
3.
侵害・非侵害を決めるルール
 
・特許侵害訴訟の流れ
 
・権利範囲の考え方
 
・クレーム解釈の基本的手順
 
・文言侵害/均等侵害、間接侵害での権利範囲
4.
近時の判例を踏まえた、クレーム解釈の「現在」
 
(1)機能的クレームの解釈について
 
(2)サブコンビネーション発明の保護範囲について
 
(3)プロダクト・バイ・プロセスクレームは使いやすくなったのか?
 
(4)均等論について(2つの戦略的な主張方法)

講師の紹介

弁理士 吉田 正義 (よしだ ただのり)
ドライト国際特許事務所 所長 
 ・2011年度  弁理士会第一特許委員会委員長
 ・2013年度 弁理士会執行理事
 ・2016年度~ 東北大学非常勤講師

 

早稲田大学理工学研究科(応用化学)、早稲田大学法学研究科(民事訴訟法)修了。
日立製作所半導体事業部で17年間、研究・開発に従事。開発した知財の交渉等も担当。
2004年より弁理士として、特許等の権利化実務(明細書作成・中間処理)のほか
特許侵害訴訟においても多数の案件を担当。著作や講演多数。

開催日 2017年2月2日(木)
時 間 14:00~17:00
場 所 機械振興会館 地下3階 B3-1号室
定 員 36名
受講料 9,000円/1名(税別)[税込:9,720円/1名]

※最小催行人数に満たない場合、中止させていただく場合がございます。

お申し込みはこちらまで
メールによるお申し込み: ir@nihon-ir.co.jp
★メールに以下の内容を記載して送信してください。
・受講セミナー名(「技術的範囲を正しく捉えるクレーム解釈法」と記載してください)
・会社名 ・部署名 ・住所 ・受講者の方のお名前 ・電話番号 ・FAX番号 ・メールアドレス
FAXによるお申し込み: 03-3357-8277
★FAXの方はこちらの申込書をご利用ください。
お問い合わせ先
日本アイアール セミナー事業部 福田・三瀬
TEL:03-3357-3467 FAX:03-3357-8277
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